介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術特性  

Q 值測量范圍  2 ～ 1023 自動換檔或手動換檔  
固有誤差  ≤ 5 ％（10MHz～160MHz）  
工作誤差  ≤7％ （10MHz～160MHz）  
電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH  
電容直接測量范圍  1 ～ 200pF  
主電容調(diào)節(jié)范圍  18 ～ 220pF  
主電容調(diào)節(jié)準確度   ± 1 ％  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz  
頻率分段 （ 虛擬 ） 100kHz ～ 160MHz  
頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀技術特性 

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測微桿分辨率：0.001mm

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀多項技術：

雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。 

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。 

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 
 

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。 

計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。 
 

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器：

按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測試頻率時，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。